在本篇中以電壓檢測器的偵測電壓、釋放電壓的磁滯寬度小的狀態為例，說明會發生什麼現象。
如果磁滯寬度小
設想在電壓檢測器監控的電池電壓電路中，為連結電池等內部阻抗大的電池連接了MCU。在這種情況下，有重複發生電壓偵測器的偵測⇔釋放狀態的現象。
在此分1~6的時間序列說明，實際發生這種狀態的結構。
1. 由於電池電流增加，電池電流與電池的內部阻抗使電池電壓下降。
2. 由於電池電壓下降，電壓檢測器成為檢測狀態。達到偵測狀態之後，向MCU發送重設訊號使MCU停止動作。
3. 由於MCU停止動作，負載電流減少。
4. 由於負載電流減少，解消了電瓶電流和電瓶內部阻抗產生的電壓下降，使得電瓶電壓升高。
5. 由於電瓶電壓升高，電壓偵測器成釋放狀態，使MCU開始動作。
6. MCU的負載電流（電池電流）增加。
* 1~6重複動作，也就反覆了電壓偵測器的偵測⇔釋放狀態。
為了防止電壓偵測器的偵測⇔釋放
重複出現電壓偵測器的偵測⇔釋放狀態的現象，原因在於負載電流使電池電壓變動。 若電池電壓的變動幅度比電壓偵測器磁滯寬度大，將重複出現電壓偵測器的偵測⇔釋放狀態。
在此列舉了因電池的內部阻抗使得電壓變動的事例，保險絲、過濾電路的電阻成分，也發生電壓檢測器監控線路的電壓變動，成為反覆出現電壓檢測器的檢測⇔釋放狀態的原因。
作為一般的解決措施，列舉如下。
・設定比電池電壓（監控線路）的電壓變動幅度更大的磁滯寬度。
・改為內部阻抗小的電池；改為DCR小的保險絲和過濾器。
除電壓檢測器以外
在此介紹了電壓檢測器的例子，電壓檢測器以外的其他元件也發生同樣的現象。
另可列舉下述磁滯寬度小、持續偵測及釋放狀態的例子：
(a) 搭載了UVLO功能的電壓調整器及DC/DC轉換器，當UVLO檢測電壓與釋放電壓的磁滯寬度小時
(b) 搭載了CE/EN功能的電壓調整器及DC/DC轉換器，當CE/EN “L”電壓與“H”電壓的磁滯寬度小時
除上述以外，由於IC或電路的過電流保護、過熱保護、低電壓保護等動作，也反覆發生異常狀態與啟動和穩定狀態的事例。
不只是考察單獨的IC或元件，掌握整個電路中IC和元件的動作，對於設計電路是非常重要的。